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OM acquisition of AF 132
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AF 132 Computer Tomography 3D recontstruction and axial, coronal and sagittal view of slices of AF 130 -
AF 132 XRF processing Elemental composition of the surface of AF 130 -
AF 132 XRF acquisition XRF investigation of the surface of AF 132 -
AF 138 XRF processing Elemental composition of the surface of AF 138 - SU 04 002 sam
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AF 129 Computer Tomography 3D recontstruction and axial, coronal and sagittal view of slices of AF 129, X-ray tube voltage70 kV and Current7 mA - SU 04 002 strat
- SU 04 002 dat
- SU 04 002 des
- SU 04 002 reg
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SU 04 002 第４トレンチ第2層 - SU04 020 dat
- SU 04 020 sam
- SU 04 020 strat
- SU 04 020 des
- SU 04 020 reg
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SU 04 020 第４トレンチ第20層である、地山。 - SU 04 019 dat
- SU 04 019 sam
- SU 04 019 strat
- SU 04 019 des
- SU 04 019 reg
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SU 04 019 第４トレンチ第19層である盛土層。 -
AF 129 XRF acquisition
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AF 140 Computer Tomography 3D recontstruction and axial, coronal and sagittal view of slices of AF 140 -
AF 140 XRF data processing Elemental composition of the surface of AF 130 -
micro-XRD acquisition of AF 156 micro-X Ray Diffraction analysis of three points on the surface of AF 156 -
micro-XRD acquisition of AF 140 micro-X Ray Diffraction analysis of three points on the surface of AF 140 -
micro-XRD acquisition of AF 138 micro-X Ray Diffraction analysis of three points on the surface of AF 138 - SU 04 006 dat
- SU 04 006 sam
- SU 04 006 strat
- SU 04 006 des
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micro-XRD acquisition of AF 133 micro-X Ray Diffraction analysis of five points on the surface of AF 129 - SU 04 006 reg
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micro-XRD acquisition of AF 129 micro-X Ray Diffraction analysis of four points on the surface of AF 129 -
SU 04 006 第４トレンチ第６層である流土層。 - SU 04 005 dat
- SU 04 005 sam
- SU 04 005 strat
- SU 04 005 des
- SU 04 005 reg
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SU 04 005 第４トレンチ第５層である流土層。 - SU 04 004 dat
- SU 04 004 sam
- SU 04 004 strat
- SU 04 004 des
- SU 04 004 reg
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SU 04 004 第４トレンチ第４層である流土層。 - SU 04 003 dat
- SU 04 001 dat
- SU 04 003 sam
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OM acquisition of AF 130
- SU 04 003 strat
- SU 04 001 sam
- SU 04 001 strat
- SU 04 018 dat
- SU 04 018 sam
- SU 04 018 strat
- SU 04 018 des
- SU 04 018 reg
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SU 04 018 第４トレンチ第18層である盛土層。 - SU 04 003 des
- SU 04 017 dat
- SU 04 017 sam
- SU 04 017 strat
- SU 04 017 des
- SU 04 003 reg
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SU 04 003 第４トレンチ第３層である層。 - SU 04 017 reg
- SU 04 012 sam
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SU 04 017 第４トレンチ第17層である盛土層。 - SU 04 012 dat
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AF 130 Computer Tomography 3D recontstruction and axial, coronal and sagittal view of slices of AF 130 - SU 04 012 strat
- SU 04 012 des
- SU 04 012 reg
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SEM acquisition of AF 130 Images were acquired with a Jeol JSM-7001F Schottky Emission Scanning Electron Microscope -
SEM-EDX acquisition of AF 130
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AF 130 XRF processing Elemental composition of the surface of AF 130 - SU 04 016 dat
- SU 04 016 strat
- SU 04 016 sam
- SU 04 016 des
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AF 130 XRF acquisition
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SU 04 020 Photos
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SU 04 019 Photos
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SU 04 018 Photos
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SU 04 017 Photos
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SU 04 016 Photos
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SU 04 015 Photos
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SU 04 014 Photos
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SU 04 013 Photos
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SU 04 012 Photos
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SU 04 011 Photos
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SU 04 010 Photos
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SU 04 009 Photos
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SU 04 008 Photos
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SU 04 007 Photos