アイテム

• SU 04 012 strat
• SU 04 012 des
• SU 04 012 reg
• SEM acquisition of AF 130
  Images were acquired with a Jeol JSM-7001F　Schottky Emission Scanning Electron Microscope
• SEM-EDX acquisition of AF 130
• AF 130 XRF processing
  Elemental composition of the surface of AF 130
• SU 04 016 dat
• SU 04 016 strat
• SU 04 016 sam
• SU 04 016 des
• AF 130 XRF acquisition
• SU 04 020 Photos
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