アイテム
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AF 140 Computer Tomography 3D recontstruction and axial, coronal and sagittal view of slices of AF 140 -
AF 140 XRF data processing Elemental composition of the surface of AF 130 -
micro-XRD acquisition of AF 156 micro-X Ray Diffraction analysis of three points on the surface of AF 156 -
micro-XRD acquisition of AF 140 micro-X Ray Diffraction analysis of three points on the surface of AF 140 -
micro-XRD acquisition of AF 138 micro-X Ray Diffraction analysis of three points on the surface of AF 138 - SU 04 006 dat
- SU 04 006 sam
- SU 04 006 strat
- SU 04 006 des
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micro-XRD acquisition of AF 133 micro-X Ray Diffraction analysis of five points on the surface of AF 129 - SU 04 006 reg
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micro-XRD acquisition of AF 129 micro-X Ray Diffraction analysis of four points on the surface of AF 129 -
SU 04 006 第４トレンチ第６層である流土層。 - SU 04 005 dat
- SU 04 005 sam
- SU 04 005 strat
- SU 04 005 des
- SU 04 005 reg
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SU 04 005 第４トレンチ第５層である流土層。 - SU 04 004 dat
- SU 04 004 sam
- SU 04 004 strat
- SU 04 004 des
- SU 04 004 reg
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SU 04 004 第４トレンチ第４層である流土層。