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AF TTK 008 SEM images acquisition

アイテム

タイトル (Dublin Core): AF TTK 008 SEM images acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x.; jp 走査型電子顕微鏡により 50 倍で取得した後方散乱画像。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2019年11月22日
INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): AF TTK 008 OM for SEM acquisition
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Scanning electron microscopy (SEM); jp 走査型電子顕微鏡(SEM); scanning electron microscopy

メディア: TT8_SEM_Image1_50x; TT8_SEM_Image2_50x; TT8_SEM_Image3_50x; TT8_SEM_Image4_50x; TT8_SEM_Image5_50x; TT8_SEM_Image6_50x; TT8_SEM_Image7_50x; TT8_SEM_Image8_50x; TT8_SEM_Image9_50x; TT8_SEM_Image10_50x; TT8_SEM_Image11_50x; TT8_SEM_Image12_50x; TT8_SEM_Image13_50x; TT8_SEM_Image14_50x

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タイトル	クラス
AF TTK 008	Archaeological finding record