AF TTK 006 SEM images acquisition

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タイトル (Dublin Core)

AF TTK 006 SEM images acquisition

内容記述／Description (Dublin Core)

en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x magnification.
jp 走査型電子顕微鏡で 50 倍の倍率で取得した後方散乱画像。

INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

15 11月 2019

INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

AF TTK 006 OM for SEM acquisition

ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

en Scanning Electron Microscopy (SEM).
jp 走査型電子顕微鏡 (SEM)。
Scanning Eletrochemical Microscopy

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ARCHAEOMETRIC INVESTIGATION (some archaeometric data record) - 理化学的分析あり（リンクを含める）
タイトル 代替ラベル クラス
AF TTK 006 Archaeological finding record