AF TTK 004 SEM images acquisition

タイトル (Dublin Core): AF TTK 004 SEM images acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x, 100x and 200x magnification.; jp 50x、100x、および 200x の倍率で走査型電子顕微鏡によって取得された後方散乱画像。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2019年11月22日
INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): AF TTK 004 OM for SEM acquisition
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Scanning Electron Microscopy (SEM).; jp 走査型電子顕微鏡 (SEM).; scanning electron microscopy
ACQUISITION / CREATION DETAILS - 分析詳細 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en At 50x magnification: Images 1, 4, 5, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 20, 21,
At 100x magnification: Images 2, 3, 6, 11, 13
200x: Images 1B to 11B; jp 倍率 50 倍: 画像 1、4、5、7、8、9、10、12、14、15、16、17、18、19、20、21、
倍率 100 倍: 画像 2、3、6、11、13
200倍：画像1B～11B