AF TTK 004 SEM images acquisition

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タイトル (Dublin Core)

AF TTK 004 SEM images acquisition

内容記述／Description (Dublin Core)

en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x, 100x and 200x magnification.
jp 50x、100x、および 200x の倍率で走査型電子顕微鏡によって取得された後方散乱画像。

INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

22 11月 2019

INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

AF TTK 004 OM for SEM acquisition

ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

en Scanning Electron Microscopy (SEM).
jp 走査型電子顕微鏡 (SEM).
scanning electron microscopy

ACQUISITION / CREATION DETAILS - 分析詳細 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

en At 50x magnification: Images 1, 4, 5, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 20, 21,
At 100x magnification: Images 2, 3, 6, 11, 13
200x: Images 1B to 11B
jp 倍率 50 倍: 画像 1、4、5、7、8、9、10、12、14、15、16、17、18、19、20、21、
倍率 100 倍: 画像 2、3、6、11、13
200倍：画像1B～11B

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ARCHAEOMETRIC INVESTIGATION (some archaeometric data record) - 理化学的分析あり（リンクを含める）
タイトル 代替ラベル クラス
AF TTK 004 Archaeological finding record