AF TTK 003 SEM images acquisition

タイトル (Dublin Core): AF TTK 003 SEM images acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x and 200x magnification. Images 1 to 6 at 50 x. Images from 7 to 16 at 200x.; jp 走査型電子顕微鏡で 50 倍および 200 倍の倍率で取得した後方散乱画像。画像 1 ～ 6 は 50 倍。 200x で 7 から 16 までの画像。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2019年12月15日
INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): AF TTK 003 OM for SEM acquisition
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Scanning Electron Microscopy (SEM).; jp 走査型電子顕微鏡 (SEM)。; scanning electron microscopy