AF TTK 002 SEM images acquisition

アイテム

タイトル (Dublin Core)

AF TTK 002 SEM images acquisition

内容記述／Description (Dublin Core)

en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x magnification. Images from 1 to 5 at 50 x.
jp 走査型電子顕微鏡で 50 倍の倍率で取得した後方散乱画像。 50 x で 1 から 5 までの画像。

INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

8 11月 2019

INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

AF TTK 002 OM for SEM acquisition

ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

en Scanning electron microscopy (SEM)
jp 走査型電子顕微鏡(SEM)
scanning electron microscopy

アイテムセット

BeArchaeo virtual exhibition items

リンクしたリソース

プロパティでフィルター

ARCHAEOMETRIC INVESTIGATION (some archaeometric data record) - 理化学的分析あり（リンクを含める）
タイトル 代替ラベル クラス
AF TTK 002 Archaeological finding record