AF TTK 002 SEM images acquisition
アイテム
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タイトル (Dublin Core)
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AF TTK 002 SEM images acquisition
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内容記述/Description (Dublin Core)
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en
Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x magnification. Images from 1 to 5 at 50 x.
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jp
走査型電子顕微鏡で 50 倍の倍率で取得した後方散乱画像。 50 x で 1 から 5 までの画像。
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INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)
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西暦2019年11月8日
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ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)
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en
Scanning electron microscopy (SEM)
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jp
走査型電子顕微鏡(SEM)
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scanning electron microscopy
リンクしたリソース
アイテム with "ARCHAEOMETRIC INVESTIGATION (some archaeometric data record) - 理化学的分析あり(リンクを含める): AF TTK 002 SEM images acquisition"
タイトル |
クラス |
AF TTK 002 |
Archaeological finding record
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