AF TTK 002 SEM images acquisition

アイテム

タイトル (Dublin Core)
AF TTK 002 SEM images acquisition
内容記述/Description (Dublin Core)
en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x magnification. Images from 1 to 5 at 50 x.
jp 走査型電子顕微鏡で 50 倍の倍率で取得した後方散乱画像。 50 x で 1 から 5 までの画像。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)
西暦2019年11月8日
INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)
AF TTK 002 OM for SEM acquisition
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)
en Scanning electron microscopy (SEM)
jp 走査型電子顕微鏡(SEM)
scanning electron microscopy
アイテムセット
BeArchaeo virtual exhibition items

リンクしたリソース

アイテム with "ARCHAEOMETRIC INVESTIGATION (some archaeometric data record) - 理化学的分析あり(リンクを含める): AF TTK 002 SEM images acquisition"
タイトル クラス
AF TTK 002 Archaeological finding record