AF ZMT 006 SEM images acquisition

タイトル (Dublin Core): AF ZMT 006 SEM images acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x and 200x magnification. Images from right to left top and bottom surface 1 to 7 at 50 x. Images from 8 to 20 at 200x.; jp 走査型電子顕微鏡で 50 倍および 200 倍の倍率で取得した後方散乱画像。右から左の上面と下面の画像 1 から 7 で 50 倍。 200x で 8 から 20 までの画像。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2019年12月13日
INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): AF ZMT 006 OM for SEM acquisition
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Scanning electron microscopy (SEM).; jp 走査型電子顕微鏡 (SEM).; scanning electron microscopy

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アイテム with "ARCHAEOMETRIC INVESTIGATION (some archaeometric data record) - 理化学的分析あり（リンクを含める）: AF ZMT 006 SEM images acquisition"
タイトル	クラス
AF ZMT 006	Archaeological finding record