AF ZMT 004 SEM images acquisition

タイトル (Dublin Core): AF ZMT 004 SEM images acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x and 200x magnification. Images from right to left top and bottom surface 1 to 21 at 50 x. Images from 22 to 31 at 200x.; jp 走査型電子顕微鏡で 50 倍および 200 倍の倍率で取得した後方散乱画像。右から左の上面および底面 1 から 21 までの画像、50 倍。 200x で 22 から 31 までの画像。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2019年12月19日
INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): AF ZMT 004 OM for SEM acquisition
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Scanning electron microscopy (SEM); jp 走査型電子顕微鏡 (SEM); scanning electron microscopy