AF UEN 002 SEM images acquisition

タイトル (Dublin Core): AF UEN 002 SEM images acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x and 200x magnification.
Images along the surface from left to right: 1 to 5 at 50x
Images from 6 to 12 at 200x; jp 走査型電子顕微鏡で 50 倍および 200 倍の倍率で取得した後方散乱画像。
左から右に表面に沿った画像: 50x で 1 ～ 5
200x で 6 から 12 までの画像
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2019年12月19日
INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): AF UEN 002 OM for SEM acquisition
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Scanning electron microscopy (SEM); jp 走査型電子顕微鏡 (SEM); scanning electron microscopy