AF TTK 003 OM for SEM acquisition

アイテム

タイトル (Dublin Core)

AF TTK 003 OM for SEM acquisition

内容記述／Description (Dublin Core)

en Optical microphotogrametry specifying areas for SEM images and areas analysed by Scanning Electron Microscopywith Energy Dispersive X-ray.
jp SEM 画像の領域を指定する光学顕微鏡写真測量法と、エネルギー分散型 X 線を使用した走査型電子顕微鏡法によって分析された領域。

INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

8 11月 2019

ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)

en Optical microscopy
jp 光学顕微鏡
optical microscopy

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INPUT - 元となるデータなど
タイトル 代替ラベル クラス
AF TTK 003 SEM images acquisition Data_acquisition_or_creation_CR
AF TTK 003 SEM EDX acquisition Data_acquisition_or_creation_CR
ARCHAEOMETRIC INVESTIGATION (some archaeometric data record) - 理化学的分析あり（リンクを含める）
タイトル 代替ラベル クラス
AF TTK 003 Archaeological finding record