AF UEN 001 OM for SEM acquisition

タイトル (Dublin Core): AF UEN 001 OM for SEM acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Optical microphotogrametry specifying areas for areas analysed by Scanning Electron Microscopy with Energy Dispersive X-ray.; jp SEM 画像の領域を指定する光学顕微鏡写真測量法と、エネルギー分散型 X 線を使用した走査型電子顕微鏡法によって分析された領域。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2019年12月19日
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Optical Microscopy for Scanning Elecrtochemical Microscopy.; jp 走査電気化学顕微鏡のための光学顕微鏡。; optical microscopy

メディア: SH1_OM_for_SEM_Overview; SH1_OM_for_SEM_EDX_Areas_1_2; SH1_OM_for_SEM_EDX_Areas_4_5_6; SH1_OM_for_SEM_EDX_Areas_7_to_11; SH1_OM_for_SEM_EDX_Areas_12_to_21

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アイテム with "ARCHAEOMETRIC INVESTIGATION (some archaeometric data record) - 理化学的分析あり（リンクを含める）: AF UEN 001 OM for SEM acquisition"
タイトル	クラス
AF UEN 001	Archaeological finding record

アイテム with "INPUT - 元となるデータなど: AF UEN 001 OM for SEM acquisition"
タイトル	クラス
AF UEN 001 SEM EDX acquisition	Data_acquisition_or_creation_CR
AF UEN 001 SEM images acquisition	Data_acquisition_or_creation_CR