AF UEN 001 OM for SEM acquisition
アイテム
タイトル (Dublin Core)
AF UEN 001 OM for SEM acquisition
内容記述／Description (Dublin Core)
en
Optical microphotogrametry specifying areas for areas analysed by Scanning Electron Microscopy with Energy Dispersive X-ray.
jp
SEM 画像の領域を指定する光学顕微鏡写真測量法と、エネルギー分散型 X 線を使用した走査型電子顕微鏡法によって分析された領域。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)
19 12月 2019
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)
en
Optical Microscopy for Scanning Elecrtochemical Microscopy.
jp
走査電気化学顕微鏡のための光学顕微鏡。
リンクしたリソース
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| タイトル | 代替ラベル | クラス |
|---|---|---|
 AF UEN 001 |
Archaeological finding record |
| タイトル | 代替ラベル | クラス |
|---|---|---|
 AF UEN 001 SEM EDX acquisition |
Data_acquisition_or_creation_CR | |
 AF UEN 001 SEM images acquisition |
Data_acquisition_or_creation_CR |