AF UEN 001 SEM images acquisition

タイトル (Dublin Core): AF UEN 001 SEM images acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Backscattered Images acquired by Scanning Electron Microscopy at 50x and 200x magnification.
Images along the surface from left to right from 1 to 6 at 50x; 7 to 16 at 200x; Images also under 17 to 19 at 50x; jp 走査型電子顕微鏡で 50 倍および 200 倍の倍率で取得した後方散乱画像。
50x で 1 から 6 まで左から右に表面に沿った画像。 200x で 7 ～ 16。 17～19歳未満の画像も50倍
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2019年12月19日
INPUT - 元となるデータなど (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): AF UEN 001 OM for SEM acquisition
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Scanning electron microscopy (SEM); jp 走査型電子顕微鏡 (SEM); scanning electron microscopy