AF TTK 005 OM acquisition

タイトル (Dublin Core): AF TTK 005 OM acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Optical microscopy (stereomicroscopy= on surface and reflected light microscopy on polished cross sections of ceramic sample AF TTK 005.; jp 光学顕微鏡 (実体顕微鏡 = 表面および反射光学顕微鏡 = セラミックサンプル AF TTK 005 の研磨された断面)。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2021年5月21日
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Optical microscopy; jp 光学顕微鏡; optical microscopy
ACQUISITION / CREATION DETAILS - 分析詳細 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Cross section treatment:
Fragment mounted in cross section with epoxy resin, polished with diamond pasted down to 1 micron
Microscope:
Leica 12.5 stereomicroscope (6-63X), visible light
Polarizer: no; jp 断面処理:
断片を断面にエポキシ樹脂で取り付け、ダイヤモンドを 1 ミクロンまで貼り付けて研磨
顕微鏡：
Leica 12.5 実体顕微鏡 (6-63X)、可視光
偏光子: いいえ