AF TTK 002 OM acquisition
アイテム
タイトル (Dublin Core)
AF TTK 002 OM acquisition
内容記述／Description (Dublin Core)
en
Optical microscopy (stereomicroscopy) on surface and reflected light microscopy on polished cross sections of ceramic samples AF TTK 002.
jp
表面の光学顕微鏡 (実体顕微鏡) とセラミック サンプル AF TTK 002 の研磨された断面の反射光学顕微鏡。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)
21 5月 2021
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)
ACQUISITION / CREATION DETAILS - 分析詳細 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary)
en
Cross section sample treatment:
Fragment mounted in cross section with epoxy resin, polished with diamond pasted down to 1 micron
Microscope:
Leica 12.5 stereomicroscope (6-63X), visible reflected light
polarizer: no
Fragment mounted in cross section with epoxy resin, polished with diamond pasted down to 1 micron
Microscope:
Leica 12.5 stereomicroscope (6-63X), visible reflected light
polarizer: no
jp
断面サンプル処理:
断片を断面にエポキシ樹脂で取り付け、ダイヤモンドを 1 ミクロンまで貼り付けて研磨
顕微鏡：
Leica 12.5 実体顕微鏡 (6-63X)、可視反射光
偏光子: いいえ
断片を断面にエポキシ樹脂で取り付け、ダイヤモンドを 1 ミクロンまで貼り付けて研磨
顕微鏡：
Leica 12.5 実体顕微鏡 (6-63X)、可視反射光
偏光子: いいえ
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| タイトル | 代替ラベル | クラス |
|---|---|---|
 AF TTK 002 |
Archaeological finding record |
| タイトル | 代替ラベル | クラス |
|---|---|---|
| AF TTK 002 OM processing and modeling | Data_processing_or_modeling_CR |