AF TTK 002 OM acquisition

タイトル (Dublin Core): AF TTK 002 OM acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Optical microscopy (stereomicroscopy) on surface and reflected light microscopy on polished cross sections of ceramic samples AF TTK 002.; jp 表面の光学顕微鏡 (実体顕微鏡) とセラミックサンプル AF TTK 002 の研磨された断面の反射光学顕微鏡。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2021年5月21日
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Optical microscopy; jp 光学顕微鏡; optical microscopy
ACQUISITION / CREATION DETAILS - 分析詳細 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Cross section sample treatment:
Fragment mounted in cross section with epoxy resin, polished with diamond pasted down to 1 micron
Microscope:
Leica 12.5 stereomicroscope (6-63X), visible reflected light
polarizer: no; jp 断面サンプル処理:
断片を断面にエポキシ樹脂で取り付け、ダイヤモンドを 1 ミクロンまで貼り付けて研磨
顕微鏡：
Leica 12.5 実体顕微鏡 (6-63X)、可視反射光
偏光子: いいえ

メディア: TT2_Surface_8x; TT2_Surface_6.3x; TT2_Surface_10x; TT2_Cross_Section_12.5x; Acquisition details_OM; TT2_Cross_Section_16x; TT2_Cross_Section_6.3x; TT2_Cross_Section_10x

Filter by resource type and property:

アイテム with "ARCHAEOMETRIC INVESTIGATION (some archaeometric data record) - 理化学的分析あり（リンクを含める）: AF TTK 002 OM acquisition"
タイトル	クラス
AF TTK 002	Archaeological finding record

アイテム with "INPUT - 元となるデータなど: AF TTK 002 OM acquisition"
タイトル	クラス
AF TTK 002 OM processing and modeling	Data_processing_or_modeling_CR