AF UEN 002 OM acquisition

タイトル (Dublin Core): AF UEN 002 OM acquisition
内容記述／Description (Dublin Core): en Optical microscopy (stereomicroscopy) on surface and reflected light microscopy on polished cross sections of ceramic sample AF UEN 002.; jp セラミックサンプル AF UEN 002 の表面の光学顕微鏡 (実体顕微鏡) と研磨された断面の反射光学顕微鏡。
INVESTIGATION DATE - 分析の日付 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): 西暦2021年5月21日
ACQUISITION / CREATION TYPE - 分析方法 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Optical microscopy; jp 光学顕微鏡; optical microscopy
ACQUISITION / CREATION DETAILS - 分析詳細 (Archaeometric Investigation Record Vocabulary): en Cross section samples treatment:
Fragment mounted in cross section with epoxy resin, polished with diamond pasted down to 1 micron

Microscope:
Leica 12.5 stereomicroscope (6-63X), visible reflected light
polarizer: no; jp 断面サンプル処理:
断片を断面にエポキシ樹脂で取り付け、ダイヤモンドを 1 ミクロンまで貼り付けて研磨

顕微鏡：
Leica 12.5 実体顕微鏡 (6-63X)、可視反射光
偏光子: いいえ